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MINISTERIO DE CIENCIA E INNOVACION CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS PLIEGO DE PRESCRIPCIONES TÉCNICAS PARA EL SUMINISTRO DE UN SISTEMA DE MEDIDA DE TERMOGRAFIA INFRARROJA CON DESTINO AL INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA. 1. OBJETO DEL PLIEGO: En este pliego se establecen las condiciones técnicas mínimas en diseño, materiales y económicas que han de regir en el suministro de un sistema de alta sensibilidad y alta velocidad de medida superficial, mediante termografía infrarroja para el Laboratorio de Caracterización Térmica del Instituto de Microelectrónica de Barcelona (IMB-CNM). Código CPA:26 51 66 2. PRECIO DE LICITACIÓN: El precio máximo de licitación, incluidos IVA e impuestos, será de 98.100,00 Euros, Importe sin IVA………….……84.568,97€ Importe de IVA(16%)………...13.531,03€. 3. PLAZO DE ENTREGA E INSTALACIÓN: El plazo máximo de entrega es de 18 semanas 4. LUGAR DE ENTREGA: INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA. C/ Campus UAB s/n 08193 CERDANYOLA DEL VALLES (BARCELONA) 5. PARTES Y COMPONENTES DEL SUMINISTRO: 5.1 Cámara de imagen infrarroja de altas prestaciones (alta velocidad de adquisición y sensibilidad) para análisis de distribuciones de temperatura y especialmente diseñada para aplicaciones avanzadas de I+D. 5.2 Lente estándar 27mm con enfoque motorizado controlable por el software de gestión. 5.3 Lente microscópica adicional que permitirá al sistema un mínimo de 6µm/pixel de resolución espacial. PLIEGO 13/09 SISTEMA DE MEDIDA DE TERMOGRAFIA. INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA. 1/5 C/ Serrano, 117 28006 Madrid España Tel.: 91 585 50 00 Fax: 91.585.50.98 MINISTERIO DE CIENCIA E INNOVACION CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS 5.4 Software de control y gestión que permita el completo control y operación de la cámara infrarroja, así como el análisis, registro, tratamiento de las imágenes, informes y exportación a otros ficheros y formatos. 5.5 Calibración avanzada independientemente de los tiempos de integración en el rango de temperatura desde 5ºC hasta 300ºC con la posibilidad de incrementar el rango hasta los 400ºC 5.6 Instalación, puesta en marcha 5.7 Manuales 5.8 Curso de formación. 6. ESPECIFICACIONES TECNICAS Y REQUISITOS MINIMOS DEL SUMINISTRO: El sistema deberá cumplir con los siguientes requisitos mínimos: 6.1. Cámara de imagen infrarroja para análisis de radiación infrarroja en tiempo real y especialmente diseñada para aplicaciones de I+D e industriales con eventos térmicos de alta velocidad con las siguientes especificaciones mínimas: Detector de InSb de alta eficiencia cuántica refrigerado mediante ciclo cerrado de Stirling, tipo FPA de 320x256 píxeles de resolución. Tamaño de “pitch” de 30 µm.. Refrigerador tipo Stirling de alta fiabilidad con un MTBF>8000 horas Tiempo medio de vida del refrigerador > 25.000 horas Respuesta espectral: de 1,5 a 5,1 µm Sensibilidad térmica NETD @ 25°C: < 20mK (15mK típica). Óptica estándar de 27mm motorizada integrada en la cámara con sistema tipo bayoneta para instalación de ópticas adicionales. Sistema de enfoque motorizado controlable por el usuario a través del software. Control del tiempo de integración: de 10µs hasta 5000µs programable con pasos de 1µs. Frecuencia de adquisición ajustable mediante “windowing”. Máxima velocidad de grabación según tamaño de ventana: o 320x256 píxeles = 383Hz o 160x128 píxeles = 1250Hz. o 80x64 píxeles = 3500 Hz o 48x4 píxeles = 30000 Hz. Rueda de filtros motorizada intercambiable con 4 agujeros para filtros de 1” de diámetro, controlable por software. Salida de vídeo analógica PAL (50Hz) ó NTSC (60Hz). PLIEGO 13/09 SISTEMA DE MEDIDA DE TERMOGRAFIA. INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA. 2/5 C/ Serrano, 117 28006 Madrid España Tel.: 91 585 50 00 Fax: 91.585.50.98 MINISTERIO DE CIENCIA E INNOVACION CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS Salida Digital Gigabit Ethernet y Camera Link de 14 bits. Señal de “trigger” y “pre-trigger” de entrada y salida para grabación. “Triger jitter” < 300ns NUC (Noise Under Correction) definibles por el usuario y con algoritmos que permitan cambiar los tiempos de integración, la velocidad y el formato de la subventana sin necesidad de reajustar el NUC. Tasa de transferencia 50 Mpíxeles con resoluciones de píxel de 14 bits. 6.2. Lente microscópica adicional con las siguientes características: Montura tipo bayoneta Motorizada con enfoque totalmente controlable a través de software. Resolución espacial: 6 micras / píxel ó inferior. 6.3. Calibración de alta precisión en temperatura desde 5ºC hasta 300ºC con la posibilidad de calibración hasta los 400ºC. Calibración de alta precisión para todo el rango dinámico independientemente del tiempo de integración, con auto rango para los tiempos de integración que se seleccionen y múltiple integración sub-framing con precisión radiométrica. 6.4. Software de control, gestión y análisis compatible con los diferentes sistemas operativos y con las siguientes características: Visualización de la imagen en blanco y negro o diversas paletas de color. Configuración de parámetros de la cámara (“windowing”, velocidad de adquisición, tiempos de integración, filtros, ) Almacenamiento en tiempo real (promediados, imágenes, vídeos, etc en disco RAM a 400 imágenes por segundo “full frame”). Rutina de calibración radiométrica (Calibración, emisividad, Te, etc). Análisis detallado de imágenes (puntos, perfiles, histogramas, etc). Exportación de datos para análisis externo (ASCII, MATLAB, EXCEL, etc) Procesado de imágenes (adición, substracción, multiplicación, división, etc). Generación de informes (AVI, BMP, TIFF, JPEG, GIF, PNG etc) Sistema de “trigger” flexible mediante software (externo, por tiempo, nivel, etc). Gestor de calibraciones para permitir calibraciones por el propio usuario. 6.5 La cámara deberá tener integrado a nivel de hardware interno lo necesario para habilitar in situ en un futuro las siguientes prestaciones través de software: PLIEGO 13/09 SISTEMA DE MEDIDA DE TERMOGRAFIA. INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA. 3/5 C/ Serrano, 117 28006 Madrid España Tel.: 91 585 50 00 Fax: 91.585.50.98 MINISTERIO DE CIENCIA E INNOVACION CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS o Opción para lock-in integrado dentro la cámara, que permitirá la grabación de tres señales analógicas con las imágenes térmicas. Esta función permitirá grabar tres parámetros analógicos con cada imagen. Ej: presión, fuerza, temperatura local. Opción activable por software. o Modulo para tiempos de integración múltiples (Grabación con diferentes tiempos de integración dentro de la misma grabación). Opción activable por software 6.6 El sistema deberá estar adaptado para implementar de forma sencilla las siguientes prestaciones: o Implementación de sistema de termografía pulsada y lock-in añadiendo software y fuentes de calentamiento. o Sistema de microscopía. o SDK plug-in. 6.7 MANUALES Se incluirán todos los manuales de uso, técnicos y de mantenimiento. 6.8 CURSO DE FORMACIÓN La empresa adjudicataria incluirá un curso de formación sobre el uso y aplicaciones del equipo, a cargo de personal cualificado, que permita el máximo aprovechamiento del mismo. 7. OTRAS CONDICIONES: Cumplimiento de las obligaciones empresariales que establece la Ley de Prevención de Riesgos Laborales, así como la normativa y reglamentación que le sea de aplicación en su caso vr. Gratia (Norma Básica de Edificación NBECPI-96, RD 1836/1999 Reglamento sobre Instalaciones Nucleares y Radiactivas, RD 783/2001 Reglamento sobre proteccion sanitaria contra radiaciones ionizantes, Reglamento Lugares de Trabajo, etc.) así como evitar o reducir en lo máximo posible, y siempre dentro de la legalidad, cualquier impacto ambiental (y dentro de él la generación de residuos) que el desarrollo del trabajo o actividad, objeto del contrato, pudiera generar. 8. GARANTÍA: La garantía del presente suministro será de 2 años. Se valorará la ampliación de plazo de garantía o periodos de mantenimiento a todo riesgo gratuitos. PLIEGO 13/09 SISTEMA DE MEDIDA DE TERMOGRAFIA. INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA. 4/5 C/ Serrano, 117 28006 Madrid España Tel.: 91 585 50 00 Fax: 91.585.50.98 MINISTERIO DE CIENCIA E INNOVACION 9. CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS PUESTA A PUNTO E INSTALACIÓN: El equipo o sistema se suministrará completo, incluyendo todos aquellos elementos necesarios para su correcta instalación, puesta a punto y funcionamiento. 10. FORMA DE PAGO: El pago se hará efectivo en un único plazo, una vez recibida y facturada la totalidad del suministro. La factura deberá incluir todas las menciones legalmente obligatorias. Los plazos previstos en el articulo 200 de la LCSP se computarán a partir de la entrega por el contratista de la respectiva factura y debidamente recepcionado el objeto del contrato. 11. DOCUMENTACION TECNICA: La documentación técnica se presentará en la forma exigida en el Pliego de Cláusulas Administrativas Particulares y debidamente firmada por el representante de la empresa. En el sobre de documentación técnica, además de las dos copias solicitadas, se incluirá una copia de dicha documentación en CD. Los ficheros tendrán el formato PDF o WORD. La inclusión de este CD no exime de la entrega de la documentación tal como requiere el Pliego de Cláusulas Administrativas Particulares. PLIEGO 13/09 SISTEMA DE MEDIDA DE TERMOGRAFIA. INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA. 5/5 C/ Serrano, 117 28006 Madrid España Tel.: 91 585 50 00 Fax: 91.585.50.98