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CONFERENCIA
Microscopia Electrónica de Transmisión. Aportación al estudio de
sistemas nanoestructurados. Últimas tendencias
Dra. Teresa Cristina Rojas Ruiz
Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla.
Centro Mixto CSIC- Universidad de Sevilla.
Centro de Investigaciones Científicas Isla de la Cartuja.
Día: Martes, 2 de octubre de 2007. Hora: 12 horas
Lugar: Sala de Grados. Facultad de Ciencias (Edificio D)
Los problemas científicos que se presentan en el campo de la nanotecnología requieren del
estudio de nuevos materiales haciendo uso de técnicas de caracterización con tamaño de sonda de
pocos nanometros. En concreto, mucha de la información que se necesita conocer de los nanosistemas (tamaño, forma 2D y 3D, composición elemental, entorno, fases, enlaces, estados de
valencia, defectos, interfases, superficies….), y que va a permitir comprender su comportamiento, a
la vez que poder diseñar nuevos materiales con propiedades físicas, químicas, y mecánicas
controladas, se puede obtener mediante la microscopia electrónica de transmisión (TEM). Gracias
a los distintos detectores y sistemas de análisis que pueden acoplarse al microscopio, es posible
acceder a distintas señales procedentes de la muestra, y obtener imágenes y espectros que
proporcionan distinta información morfológica, química, estructural y electrónica de la misma.
Actualmente, las dimensiones críticas que se están alcanzando en nanociencia están
disminuyendo considerablemente, de modo que es necesario comprender la estructura de los
materiales a escala atómica. Además, son las interacciones a escala atómica y molecular las que
determinan el comportamiento de dichos materiales, por lo que es necesario el acceso a imágenes y
técnicas analíticas a escala sub-atómica. Esta información puede obtenerse gracias al desarrollo de
equipos instrumentales de última generación, Microscopía Electrónica de Ultra Alta Resolución.
Dichos microscopios, abren la puerta a los científicos para estudiar la morfología, cristalografía,
composición química y elemental a si como la estructura electrónica con unos niveles de resolución
estructural, espacial y energética que no se consiguen con otras técnicas de caracterización de
materiales.
En esta presentación se muestran algunos ejemplos de aplicación de la técnica al estudio de
materiales nanoestructurados,: nanopartículas y nanocomposites, catalizadores, materiales
mesoporosos, nanotubos y nanofibras, semiconductores y películas delgadas, abarcando desde el
TEM más convencional, hasta técnicas de microscopias y espectroscopias menos conocidas;
espectroscopía de perdida de energía de los electrones EELS, imágenes filtradas en energía
EFTEM, como algunas de las mas recientes HAADF-STEM y Tomografía de electrones. Se
pretende dar una visión general de las distintas técnicas, de sus aplicaciones y limitaciones, así
como de las nuevas posibilidades de análisis que ofrecen los actuales microscopios electrónicos de
ultra alta resolución.