Download Laboratorio de Microscopia Centro de Manufactura de Textil y

Document related concepts

Microscopio electrónico de barrido wikipedia , lookup

Microscopio electrónico wikipedia , lookup

Focused Ion Beam wikipedia , lookup

Residuos de disparo wikipedia , lookup

Difracción de electrones wikipedia , lookup

Transcript
Laboratorio
Centro de Manufactura
en Textil y Cuero
CARATERIZACIÓN SENA - SEM
Laboratorio de Microscopia Centro de Manufactura en Textil y Cuero
Complejo Sur, Carrera 30 Nº 17B – 25 Sur, Ambiente 212
laboratoriocmtc@misena.edu.co
DESCRIPCIÓN DE LA MUESTRA
Electrodo metálico flexible, cuerpo color negro y punta plateada. Longitud aproximada 30 centímetros.
TÉCNICA DE CARACTERIZACIÓN
ANALISIS Y RESULTADOS
Microscopía electrónica de barrido.
Se realizó análisis de la parte anterior del electrodo que corresponde a
la punta de la muestra.
Permite la caracterización física de la morfología superficial de
muestras sólidas1 mediante el barrido de un haz de electrones
generado desde la fuente, en este caso un filamento de tungsteno.
Los electrones emitidos por la fuente son acelerados por una rejilla
polarizada positivamente y viajan a lo largo de la columna en vació
hacia la muestra, direccionados y focalizados por el campo eléctrico
generado por un conjunto de lentes electromagnéticas. A continuación
el sistema de bobinas de barrido ubicado al final de la columna,
desplazan el haz puntual sobre la superficie de la muestra realizando
un barrido de la misma mediante continuas idas y venidas.
La interacción del haz con un punto de la muestra genera señales
compuestas de electrones secundarios, reflejados, transmitidos y
absorbidos, entre otras, las cuales finalmente permitirán la formación
de la imagen. 2,3
Se infiere de las micrografías que la parte caracterizada de la muestra
presenta diferencias morfológicas a lo largo de la misma. La zona
inmediatamente anterior a la punta presenta fallas superficiales
como poros y se observan marcas paralelas al eje del elemento,
propias de la fabricación del mismo. (Figura1)
SEI
15.0kV
SS40
x130
SEI
15.0kV
WD23mm
SS40
x750
Figura 1. Micrografía SEM cuerpo del electrodo.
EQUIPO UTILIZADO
Microscopio Electrónico de Barrido JSM-6010LA
WD23mm
Respecto a la punta, se observa un acabado diferente al del cuerpo
del electrodo, así mismo se evidencia la presencia poco uniforme de
restos de un material de características morfológicas diferentes al del
electrodo en sí, el cual se presume puede tener origen en la función
predeterminada del elemento bajo análisis. (Figura2)
SEI 15.0kV WD23mm SS40
x700
SEI
11.0kV
WD23mm
SS41
x1200
Figura 2. Micrografía SEM punta del electrodo.
CARACTERÍSTICAS EXPERIMENTALES
CONCLUSIONES
• Señal: Electrones secundarios
• Modo de vacío: Alto
• Parámetros de caracterización indicados en las micrografías:
En la caracterización de materiales mediante microscopia electrónica
de barrido, es de vital importancia conocer el objetivo del análisis así
como la procedencia y función determinada de la muestra, lo que
permitirá la obtención de micrografías de gran utilidad para el usuario.
•
•
•
•
Voltaje de aceleración
Distancia de trabajo
Tamaño del haz
Magnificación.
Bibliografía
1.Centro conjunto de investigación en química sustentable UAEM-UNAM. Microscopio electrónico de Barrido. (s.f.). Recuperado el 8
de febrero de 2017, de http://www.cciqs.uaemex.mx/index.php?option=com_content&view=article&id=81&Itemid=83.
2. RENAU, J. y FAURA, M. Principios básicos del Microscopio electrónico de Barrido. [En línea]. Avda. Campanar,21. 46009
Valencia. [Fecha de consulta: 08 de febrero de 2017]. Sección de Microscopía Electrónica. Disponible en:
http://ruc.udc.es/dspace/bitstream/handle/2183/9313/CC-011_art_5.pdf?sequence=1
3.Martín J.A. La microscopía para el estudio de materiales y láminas delgadas. [En línea]. [Fecha de consulta: 08 de febrero de
2017]. Capítulo 19. Disponible en: http://www.icmm.csic.es/grupos/wp-content/uploads/2009/02/gago_cap19.pdf